
奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測(cè)器:Vanta Element分析儀裝配有PIN探測(cè)器,而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測(cè)器。
這些較輕元素的定量性檢測(cè)只能由裝配有SDD探測(cè)器的分析儀完成。許多人因此錯(cuò)誤地認(rèn)為不能使用裝配了PIN探測(cè)器的分析儀對(duì)鋁合金進(jìn)行分揀。但是,配備了PIN探測(cè)器的分析儀可以基于較重元素(如:銅、鉻或鐵)的含量對(duì)許多鋁合金牌號(hào)進(jìn)行分揀。當(dāng)然要進(jìn)行更細(xì)微的區(qū)分,如:鎂含量不同的6061鋁和6063鋁,需要使用配備了SDD探測(cè)器的分析儀。
2、您是否需要較低的檢出限?
哪種分析儀更適合您?

如果您需要PIN探測(cè)器,那么請(qǐng)您仔細(xì)了解一下我們的初級(jí)Vanta Element分析儀,這款價(jià)格實(shí)惠的分析儀可以對(duì)合金進(jìn)行辨別。
符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),具有防塵、防潮的特性。
通過(guò)了墜落測(cè)試(MIL-STD-810G),可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞,從而減少了對(duì)分析儀進(jìn)行高成本維修的需求。
Axon技術(shù)有助于迅速可靠地完成檢測(cè)。
借助奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng) ,可以實(shí)現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享。